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Qnix4200膜厚仪

    Qnix4200膜厚仪

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用途:测量钢铁等磁性金属基体上的非磁性涂层、镀层、氧化层,如油漆、粉末、塑料、橡胶、锌、铬、铝等;

特点:零位稳定:
所有涂层测厚仪测量前都要求校准零位,
可以在随仪器的校零板或未涂覆的工件上校零。
仪器零位的稳定是保证测量准确的前提。
一台好的测厚仪校零后,可以长时间保持零位不漂移,
确保准确测量
温度补偿:
涂覆层厚度的测量受温度影响非常大。同一工件在不同温度下测量会得出很大的误差。所以好的测厚仪应该具备理想的温度补偿技术,以保证不同温度下的测量精度。
红宝石探头:
探头接触点的耐磨性直接影响测量的精度。普通金属接触探头,其表面磨损后会带来很大的误差。
独特的直流采样技术:

使得测量重复性较传统交流技术有无可比拟的优越和提高


技术参数 

 

QuaNix 4200

QuaNix 4500

Fe 磁性

Fe/NFe 磁性非磁性

探头形式

一体

LCD数字显示

测量范围

03000μm

Fe:0-3000μm

NFe02000μm

测量精度

050μm≤±1μm  501000μm≤±1.5%

10002000μm≤±2%20005000μm≤±3%

显示精度

1μm

工作温度

10 60

温度补偿

050

最小基体

10mm×10mm

最小曲率

凸、凹半径:3mm/25mm

最薄基体

Fe0.2mmNFe0.05mm

5号电池2

110g

110×60×27mm